Metody dyfrakcyjne i mikroskopowe MFI-FT-MDM-LS
Wykład (W) Semestr zimowy 2025/2026

Zaliczenie wykładu odbywa się na ocenę.

Weryfikacja efektów uczenia się odbywa się na podstawie kolokwium zaliczeniowego w formie pisemnej, obejmującego zagadnienia omawiane w trakcie wykładu.

Ocenie podlega:

poprawność merytoryczna odpowiedzi,

zrozumienie zasad działania omawianych metod badawczych,

umiejętność analizy i interpretacji zjawisk fizycznych,

posługiwanie się właściwą terminologią naukową.

Warunkiem zaliczenia przedmiotu jest uzyskanie co najmniej 50% punktów z kolokwium zaliczeniowego.

Skala ocen

90–100% – 5,0 (bardzo dobry)

80–89% – 4,5 (dobry plus)

70–79% – 4,0 (dobry)

60–69% – 3,5 (dostateczny plus)

50–59% – 3,0 (dostateczny)

0–49% – 2,0 (niedostateczny)

1. Mikroskop optyczny i mikroskop bliskiego pola.

2. Skaningowy i transmisyjny mikroskop elektronowy SEM/TEM.

3. Mikroskopy polowe.

4. Skaningowy mikroskop tunelowy.

5. Mikroskop siła tomowych AFM.

6. Dyfrakcja LEED.

7. Dyfrakcja RHEED.

8. Źródła promieniowania rentgenowskiego.

9. Dyfraktometria rentgenowska.

10. XPS

Metody dydaktyczne:

wykład informacyjny,

wykład problemowy,

metoda dyskusyjna,

objaśnianie pojęć, praw i modeli fizycznych,

analiza przykładów ilustrujących zastosowanie omawianych metod badawczych.