Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie - Centralny System Uwierzytelniania
Strona główna

Wykład specjalistyczny z wybranych działów fizyki współczesnej

Informacje ogólne

Kod przedmiotu: MFI-F-WSWDFW-3SA
Kod Erasmus / ISCED: (brak danych) / (0533) Fizyka Kod ISCED - Międzynarodowa Standardowa Klasyfikacja Kształcenia (International Standard Classification of Education) została opracowana przez UNESCO.
Nazwa przedmiotu: Wykład specjalistyczny z wybranych działów fizyki współczesnej
Jednostka: Instytut Fizyki
Grupy:
Punkty ECTS i inne: (brak) Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:
  • roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
  • tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
  • 1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
  • tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
  • nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.
zobacz reguły punktacji
Język prowadzenia: polski
Wymagania wstępne:

brak
Sposób weryfikacji efektów kształcenia:

egzamin
Pełny opis:

Wykład poświęcony jest metodom analizy jakościowej i ilościowej powierzchni. Omówione zostaną dwie z najważniejszych metod pomiarowych analizy składu powierzchni w postaci spektroskopii Auger'a i spektroskopii fotoemisyjnej ESCA (XPS).

W zakresie spektroskopii Auger'a szczegółowe zagadnienia omawiane na wykładzie są następujące:

1. podstawy zjawiska Auger'a,

2. energie kinetyczne elektronów Auger'a,

3. przekrój czynny na jonizację,

4. porównanie emisji elektronów z emisją fotonów,

5. elektrony rozproszone wstecznie,

6. droga wyjścia,

7. przesunięcie chemiczne,

8. aparatura,

9. źródła elektronów,

10. spektrometry,

11. sposoby rejestracji wyników,

12. limity detekcji,

13. kalibracja aparatury,

14. analiza ilościowa,

15. głębokościowa analiza składu,

16. standardy kalibracyjne,

17. rozdzielczość głębokościowa,

18. szybkość rozpylania,

19. czynnik preferencji rozpylania,

20. korekcja lambda,

W zakresie spektroskopii ESCA (XPS) szczegółowe zagadnienia omawiane na wykładzie są następujące:

1. podstawy zjawiska.

2. historia odkrycia,

3. informacje wynikające z pomiarów ESCA,

4. oddziaływanie promieniowania X z materią,

5. energia wiązania i przesunięcie chemiczne,

6. teoria Koopman'a,

7. efekt stanu początkowego,

8. efekt stanu końcowego,

9. energie wiązania - poziom odniesienia,

10. kompensacja ładunku w izolatorach,

11. szerokość wierzchołka,

12. dopasowanie wierzchołka,

13. droga swobodna i głębokość próbkowania,

14. metody ilościowe,

15. standardy ilościowe,

16. przykłady oznaczenia ilościowego,

17. inne efekty widmowe,

18. aparatura,

19. źródło promieniowania X,

20. analizatory,

21. układy rejestracji,

22. analiza głębokościowa,

23. mapowanie powierzchni,
Literatura:

1. P. Auger, J. Phys. Radium 6, 205 (1925).

2. Surface Analysis - The Principal Techniques, Ed. J. C. Vickerman, I. S. Gilmore, John Willey and Sons, Chichester, United Kingdom (2009).

3. M. P. Seah in Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (D. Briggs and J. T. Grant (Eds)), IM Publications and Surface Spectra Ltd, Chichester, UK, p. 345 (203).

4. M. P. Seah in Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (D. Briggs and J. T. Grant (Eds)), IM Publications and Surface Spectra Ltd, Chichester, UK, p. 167 (203).

5. T. A. Carlson, Photoelectron and Auger Spectroscopy, New York, Plenum Press (2075).
Przedmiot nie jest oferowany w żadnym z aktualnych cykli dydaktycznych.
Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie.
kontakt deklaracja dostępności mapa serwisu USOSweb 7.1.2.0