Metody dyfrakcyjne i mikroskopowe
Informacje ogólne
| Kod przedmiotu: | MFI-FT-MDM-LS | Kod Erasmus / ISCED: |
(brak danych)
/
(0533) Fizyka
 |
| Nazwa przedmiotu: | Metody dyfrakcyjne i mikroskopowe | ||
| Jednostka: | Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur | ||
| Grupy: | |||
| Punkty ECTS i inne: |
(brak)
 zobacz reguły punktacji |
||
| Język prowadzenia: | polski | ||
| Wymagania wstępne: | znajomość praw elektrodynamiki, znajomość praw optyki geometrycznej, |
||
| Godzinowe ekwiwalenty punktów ECTS: | Godzinowe ekwiwalenty punktów ECTS dla cyklu kształcenia rozpoczętego w 2015/2016, 2016/2017 Godziny kontaktowe (z udziałem nauczyciela akademickiego) Wykład 30 Konsultacje 2 Łączna liczba godzin z udziałem nauczyciela akademickiego 32 Liczba punktów ECTS z udziałem nauczyciela akademickiego 2 Godziny nie kontaktowe (praca własna studenta) Przygotowanie się do egzaminu 30 Łączna liczba godzin nie kontaktowych: 30 Liczba punktów ECTS za godziny nie kontaktowe: 1 Sumaryczna liczba punktów ECTS dla modułu 3 |
||
| Sposób weryfikacji efektów kształcenia: | Sposób weryfikacji efektów kształcenia na studiach pierwszego stopnia zatwierdzonych na podstawie Uchwały Nr XXII –39.8/12 Senatu Uniwersytetu Marii Curie – Skłodowskiej w Lublinie z dnia 25 kwietnia 2012 r. dla cyklu kształcenia rozpoczętego w 2015/2016, 2016/2017 W01,W02 – egzamin, U01,U12 – egzamin Sposób weryfikacji efektów kształcenia na studiach pierwszego stopnia zatwierdzonych na podstawie Uchwały Nr XXIV – 7.7/17 Senatu Uniwersytetu Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie z dnia 31 maja 2017 r. dla cyklu kształcenia rozpoczętego w 2017/2018, 2018/2019 W01,W02 – egzamin, U01,U12 – egzamin |
||
| Pełny opis: |
Wykład zawiera przegląd nowoczesnych metod dyfrakcyjnych i mikroskopowych ze szczególnym uwzględnieniem specyfiki ich zastosowań i ograniczeń wynikających z charakteru oddziaływania stosowanych wiązek promieniowania i sond pomiarowych. Omawiane są następujące metody: Mikroskop optyczny i mikroskop bliskiego pola. Skaningowy mikroskop elektronowy SEM. Dyfrakcja LEED. Dyfrakcja RHEED. Źródła promieniowania rentgenowskiego. Dyfraktometria rentgenowska. Mikroskopia atomowa APM. Mikroskop tunelowy Nanosurf. Mikroskop siła tomowych AFM |
||
| Literatura: |
http://cen.acs.org/articles/92/web/2014/10/Eric-Betzig-Stefan-Hell-W.html C. Davisson and L. H. Germer, Diffraction of electrons by a crystal of Nickel, Phys. Rev. 30, 705 (1927). Hans Lüth, Surfaces and Interfaces of Solids, second edition, Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, 1993. M. Henzler, W. Göpfel, Oberflächenphysik des Festkörpers, B. G. Teubner Stuttgart, 1993. John A. Venables, Introduction to Surface and Thin Film Processes, Cambridge University Press, 2000. |
||
| Efekty uczenia się: |
Na podstawie Uchwały Nr XXII –39.8/12 Senatu Uniwersytetu Marii Curie – Skłodowskiej w Lublinie z dnia 25 kwietnia 2012 r. dla cyklu kształcenia rozpoczętego w 2015/2016, 2016/2017. WIEDZA WO1 Zna podstawowe prawa fizyki z zakcęsu mechaniki, elektryczności i magnetyzmu, termodynamiki, optyki W02 Zna podstawy rachunku różnlczkowego i całkowego jednej i wielu zmiennych, analizy wektorowej, algebry, geometrii. UMIEJĘTNOŚCI UO1 Potrafi zapisać w formalizmie matematycznym prawa ftzyczne oraz je zinterpretować U12 Potrafi określi związki przyczynowo - skutkowe Na podstawie Uchwały Nr XXIV – 7.7/17 Senatu Uniwersytetu Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie z dnia 31 maja 2017 r. dla cyklu kształcenia rozpoczętego w 2017/2018, 2018/2019. WIEDZA WO1 Zna podstawowe prawa fizyki z zakcęsu mechaniki, elektryczności i magnetyzmu, termodynamiki, optyki W02 Zna podstawy rachunku różnlczkowego i całkowego jednej i wielu zmiennych, analizy wektorowej, algebry, geometrii. UMIEJĘTNOŚCI UO1 Potrafi zapisać w formalizmie matematycznym prawa ftzyczne oraz je zinterpretować U12 Potrafi określi związki przyczynowo - skutkowe |
||
| |||||
Właścicielem praw autorskich jest Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie.